[发明专利]用GIEM室做辐射EMI测试的线性法无效
| 申请号： | 02150311.7 | 申请日： | 2002-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN1493882A | 公开（公告）日： | 2004-05-05 |
| 发明（设计）人： | 陈志雨;任列辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01R29/00 | 分类号： | G01R29/00;G01R29/08 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 戎志敏 |
| 地址： | 100080*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种用GTEM室做辐射EMI测试的线性法，包括步骤：将待测物体(EUT)摆放在GTEM室中的转台上；确定待测物体(EUT)的各轴与GTEM室各轴的对应关系；转动转台将待测物体(EUT)沿GTEM室的垂直轴(y轴)逆时针转动α角；在某频率下测得以上6个数据后，由线性方程组解出EUT的等效电偶矩和等效磁偶矩；最后，计算在开阔场中的辐射场强。本发明可测量尺寸为50cm以内比波长短的电子设备，测量频率范围为10KHz－3GHz。本发明只要求在GTEM室中按规定的6个位置摆放时测量GTEM室的端口输出功率，即可通过线性方程组求得待测设备的等效电偶距和磁偶距，进而推导出它在开阔场或半暗室中的辐射干扰场强。 | ||
| 搜索关键词： | giem 辐射 emi 测试 线性 | ||
【主权项】：
1.一种用GTEM室做辐射EMI测试的线性法，包括步骤：1) 将待测物体(EUT)摆放在GTEM室中的转台上；2) 确定待测物体(EUT)的各轴与GTEM室各轴的对应关系；3)转动转台将待测物体(EUT)沿GTEM室的垂直轴(y轴)逆时针转动α角；4)在某频率下测得以上6个数据后，由线性方程组解出EUT的等效电偶矩和等效磁偶矩；5) 最后，计算在开阔场中的辐射场强。
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