[发明专利]半导体存储器的数据存取方法以及半导体存储器无效
申请号: | 02150534.9 | 申请日: | 2002-11-12 |
公开(公告)号: | CN1428789A | 公开(公告)日: | 2003-07-09 |
发明(设计)人: | 加藤好治 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G11C11/403 | 分类号: | G11C11/403 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在进行独立于外部存取操作的刷新操作的情形中,给出了半导体存储器的数据存取方法和半导体存储器,其中设置了适合于外部存取操作和刷新操作中每一个的时间。当时间测定启动信号“SIN”进入路径开关装置时,该路径开关装置与受外部存取操作启动信号REQ(O)和内部存取操作启动请求信号REQ(I)控制的第一定时电路或第二定时电路连通。第一和第二定时部分都测定时间“τO”和时间“τI”以输出时间测定终止信号“SOUT”。测量时间“τO”相当于执行外部存取操作时位线对的微分放大时间,而测量时间“τI”相当于执行刷新操作时的微分放大时间。作为选择,测量时间“τO”还可以如此设置为受读/写操作的改变。因而,每个操作模式都可设置合适的放大时间。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储器 数据 存取 方法 以及 | ||
【主权项】:
1.半导体存储器的数据存取方法,进行相对于外部器件输入/输出数据的外部存取操作,以及刷新操作,刷新操作对应于不相对于外部器件进行输入/输出操作的内部存取操作。其中,与外部存取操作期间位线对的微分放大时间相比,刷新操作期间位线对的微分放大时间更短。
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