[发明专利]半导体存储器的数据存取方法以及半导体存储器无效

专利信息
申请号: 02150534.9 申请日: 2002-11-12
公开(公告)号: CN1428789A 公开(公告)日: 2003-07-09
发明(设计)人: 加藤好治 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G11C11/403 分类号: G11C11/403
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在进行独立于外部存取操作的刷新操作的情形中,给出了半导体存储器的数据存取方法和半导体存储器,其中设置了适合于外部存取操作和刷新操作中每一个的时间。当时间测定启动信号“SIN”进入路径开关装置时,该路径开关装置与受外部存取操作启动信号REQ(O)和内部存取操作启动请求信号REQ(I)控制的第一定时电路或第二定时电路连通。第一和第二定时部分都测定时间“τO”和时间“τI”以输出时间测定终止信号“SOUT”。测量时间“τO”相当于执行外部存取操作时位线对的微分放大时间,而测量时间“τI”相当于执行刷新操作时的微分放大时间。作为选择,测量时间“τO”还可以如此设置为受读/写操作的改变。因而,每个操作模式都可设置合适的放大时间。
搜索关键词: 半导体 存储器 数据 存取 方法 以及
【主权项】:
1.半导体存储器的数据存取方法,进行相对于外部器件输入/输出数据的外部存取操作,以及刷新操作,刷新操作对应于不相对于外部器件进行输入/输出操作的内部存取操作。其中,与外部存取操作期间位线对的微分放大时间相比,刷新操作期间位线对的微分放大时间更短。
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