[发明专利]半导体集成电路装置及其读出开始触发信号的发生方法有效
| 申请号： | 02151650.2 | 申请日： | 2002-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN1450563A | 公开（公告）日： | 2003-10-22 |
| 发明（设计）人： | 原德正;齐藤荣俊;志贺仁;本多泰彦;田浦忠行;加藤秀雄 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G11C16/06 | 分类号： | G11C16/06;G11C16/26 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 付建军 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供半导体集成电路装置及其读出开始触发信号的发生方法。该半导体集成电路装置设有：与存储体0对应的第一存储器单元阵列；与存储体1对应的第二存储器单元阵列；检测输入地址转变，发生第一地址转变信号的第一地址转变信号发生电路；事前检测存储体0或存储体1的自动执行结束，发生第二地址转变信号的第二地址转变信号发生电路；以及读出开始触发器输出电路。读出开始触发器输出电路根据第一地址转变信号和第二地址转变信号，输出读出开始触发信号。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 装置 及其 读出 开始 触发 信号 发生 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体集成电路装置，包含具有用于数据改写的自动执行功能和在该自动执行中读出数据的同时执行功能的非易失性存储器部，其特征在于，包括：配置非易失性存储器单元的与一个存储体单元对应的第一存储器单元阵列；配置非易失性存储器单元的与和所述一个存储体不同的其他存储体对应的第二存储器单元阵列；当输入阵列转变时，检测该输入地址转变，发生多个第一地址转变信号的多个第一地址转变信号发生电路；事前检测所述一个存储体的自动执行结束，发生第二地址转变信号的第二地址转变信号发生电路；以及根据所述第一地址转变信号和所述第二地址转变信号，输出成为读出开始触发器的读出开始触发信号的读出开始触发器输出电路。
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