[发明专利]评价型面的装置及方法、处理型面的装置及方法、清扫模具的方法及装置无效
| 申请号： | 02152228.6 | 申请日： | 2002-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN1420007A | 公开（公告）日： | 2003-05-28 |
| 发明（设计）人： | 长田道男;北田良二;广田敦司 | 申请（专利权）人： | 东和株式会社 |
| 主分类号： | B29C33/72 | 分类号： | B29C33/72 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 王宏祥 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的评价型面的装置及方法，包括分别设置在传感器组件(10)的上下面的下侧传感器(13)和上侧传感器(14)；根椐各自从下侧传感器(13)和上侧传感器(14)接受的检测信号、分别算出表示下模(1)和上模(2)的型面上的污垢附着程度的测定值的运算部(20)；将分别从运算部(20)接受的测定值与规定的基准值作出比较、当测定值处于基准值以下时送出规定警告信号的比较部(21)。这样，当相对于照射型面的照射光(15、17)的反射光(16、18)强度处于基准值以下时，送出警告信号。由此，可定量评价污垢的附着程度，同时根椐警告信号进行清扫，可提高树脂成形作业的效率化、树脂成形作业的自动化以及成形品的产品合格率。 | ||
| 搜索关键词： | 评价 装置 方法 处理 清扫 模具 | ||
【主权项】：
1.一种对于型面附着物的附着程度的评价装置，是对于树脂成形用的模具(1、2)型面的附着物的附着程度的评价装置，其特征在于，包括：检测对于所述型面的光学数据的检测装置(13、14、23)；根椐所述光学数据算出表示所述附着程度的测定值的运算装置(20)；将所述测定值与规定的基准值进行比较、当显示出所述附着程度的所述测定值相等于所述基准值或大于所述基准值时，生成表示所述附着程度已达到产生不良情况的程度的警告信号的比较装置(21)。
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