[发明专利]半导体记忆装置有效
申请号: | 02152706.7 | 申请日: | 2002-11-20 |
公开(公告)号: | CN1423335A | 公开(公告)日: | 2003-06-11 |
发明(设计)人: | 广濑雅庸;饭田真久;大田清人 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108;G11C11/34 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 单节点方式(开敞位线型)的动态型RAM中,以读出放大为中心左右配置了子阵。这个子阵拥有多数动态型储存元件。在位于读出放大列的左侧或右侧的子阵中,由同一行位线构成互补位线对。各个子阵中的各个位线之间的每一个间隔,配置着与这些位线平行且制成在同一配线层的屏蔽用的配线形式。这些配线形式设定了全电源电位等的固定电位。因此,有效地减少了相邻位线之间的生成干涉杂音。 | ||
搜索关键词: | 半导体 记忆 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体记忆装置,包括:复数条字线;沿与上述字线交差的方向延伸的复数条位线;配置在上述字线和位线的各个交差点上的,由一个MOS晶体管形成的传输门及包括单电容的动态型储存元件;上述各个动态型储存元件的传输门的一端被连接在上述位线上,另一端被连接在上述电容的储蓄节点上,而栅被连接在上述字线上;其中:在上述复数条位线和相邻位线之间,每个都是沿着上述相邻位线平行的方向延伸,且还配置着在上述相邻位线同一配线层上所制成的屏蔽用第一配线模式。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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