[发明专利]半导体衬底的化学溶液处理装置无效
申请号: | 02154501.4 | 申请日: | 2002-12-04 |
公开(公告)号: | CN1434492A | 公开(公告)日: | 2003-08-06 |
发明(设计)人: | 渡边薰;石川典夫;青木秀充;森清人 | 申请(专利权)人: | 恩益禧电子股份有限公司;关东化学株式会社 |
主分类号: | H01L21/306 | 分类号: | H01L21/306;H01L21/304 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王维玉,丁业平 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种通过化学溶液溶解和除去粘附于半导体衬底的钌基金属的化学溶液处理装置,其具有化学溶液处理单元,和具有排气管道的储存单元,所述的储存单元用于储存化学溶液,以便使源自所述的化学溶液处理中溶解和去除的钌基金属的气体成分挥发而脱离化学溶液,其中,与衬底接触之后的化学溶液在化学溶液处理单元中的停留时间比化学溶液在储存单元中的停留时间短。 | ||
搜索关键词: | 半导体 衬底 化学 溶液 处理 装置 | ||
【主权项】:
1.一种通过化学溶液溶解和除去粘附于半导体衬底的钌基金属的化学溶液处理装置,其包括:化学溶液处理单元,其可使半导体衬底与所述的化学溶液接触;储存单元,用于储存在所述的化学溶液处理单元中所使用的化学溶液;和化学溶液循环系统,其具有所述的储存单元,用于将所述的储存单元内的化学溶液提供给所述的化学溶液处理单元的化学溶液供应装置,和用于将在所述的化学溶液处理单元中使用和回收的化学溶液返回到所述的储存单元的化学溶液返回装置,其中:所述的化学溶液处理单元包括用于向半导体衬底提供化学溶液的化学溶液供应喷嘴,和用于回收所使用的化学溶液的回收机构;所述的储存单元的结构具有将与化学溶液接触的空隙部分,以便使源自所述的化学溶液处理中溶解和去除的钌基金属的气体成分在化学溶液循环过程中挥发脱离化学溶液,以及包括可强有力地从所述的储存单元中排出所述的挥发的气体成分的排气管道;和与半导体衬底接触之后的化学溶液在化学溶液处理单元中的停留时间比化学溶液在储存单元中的停留时间短。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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