[发明专利]用于使测试仪与被测器件面接的适配器方法和装置无效

专利信息
申请号: 02154896.X 申请日: 2002-12-03
公开(公告)号: CN1447125A 公开(公告)日: 2003-10-08
发明(设计)人: J·E·布滋科维斯基;D·L·达默;J·L·斯塔默;B·W·托达森 申请(专利权)人: 安捷伦科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/26
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 肖春京,郑建晖
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种固定装置组件(100,102),其包括用于与被测试器件配合的器件组件(102),以及测试仪接口组件(100),其在一侧上与器件组件配合,在第二侧上与测试仪配合。所述器件组件包括专用于一种被测器件的探针区,其可以被改变以便适应于不同的器件,而不改变测试仪接口组件。测试仪接口组件包括一个用于对准和结构支撑的框架(304),该述框架在一侧与探针板(310)面接,在另一侧与负载板(302)面接。探针板将一组探针保持在合适位置,而负载板提供许多孔,用于使探针通过负载板向下延伸。印刷电路板(300)被设置在负载板的下方,并和探针的端部接触。整个测试仪接口组件被设置在电子测试仪的顶上,并利用器件组件的探针区映射测试仪的接点。
搜索关键词: 用于 测试仪 器件 适配器 方法 装置
【主权项】:
1、一种固定装置,其特征在于,具有:第一组件(102),其包括第一探针区,所述第一探针区和一个器件面接;以及和所述第一组件(102)配合的第二组件(100),所述第二组件把第一探针区映射到第二探针区,所述第二探针区和测试仪面接。
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