[发明专利]轨迹测定装置无效
申请号: | 02158683.7 | 申请日: | 2002-12-18 |
公开(公告)号: | CN1441254A | 公开(公告)日: | 2003-09-10 |
发明(设计)人: | 古见忠 | 申请(专利权)人: | 株式会社阿迪泰克工程 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R31/28 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈坚 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供了一种轨迹测定装置的探针,其可减轻接触荷重。探针(1)以方形状构成,其顶端的端面(10)以长方形构成,其一边作成直线形接触边(11),且在其两端形成(R)。该直线形接触边(11)以与轨迹方向大致正交,与测定对象物接触,以扩大接触面积,且能减轻接触荷重。同时可避免增大轨迹方向的接触面积,不使测定间距增大,且不使摩耗增大。 | ||
搜索关键词: | 轨迹 测定 装置 | ||
【主权项】:
1、一种轨迹测定装置,其探针与测定对象物接触,且相对于测定对象物相对移动,在测定对象物上滑动接触以进行测定,其中,上述探针是与测定对象物和轨迹方向大致正交的方向上线接触。
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