[发明专利]非挥发性存储器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 02158792.2 申请日: 2002-12-16
公开(公告)号: CN1508872A 公开(公告)日: 2004-06-30
发明(设计)人: 陈建维 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L27/112 分类号: H01L27/112;H01L21/8246
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 王学强
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种非挥发性存储器元件及其制造方法,此非挥发性存储器例如是氮化硅存储器元件,其在至少一字符线底下有一ONO层。此ONO层形成在一基底上,接着一图案化的光阻层形成在ONO层上。之后将光阻层作为一植入罩幕以在基底中形成至少一位线。接着在基底上形成一材料层,并且将材料层平坦化直到光阻层暴露出来。继之将光阻层移除,并且在材料层的表面上形成一高分子材料层。接着以高分子材料层为一蚀刻罩幕以定义ONO层的顶部氧化硅以及氮化硅。然后再将材料层以及高分子材料层移除。
搜索关键词: 挥发性 存储器 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种非挥发性存储器的制造方法,其特征是,该方法包括:提供一基底,该基底上已形成有一捕捉层以及一图案化的光阻层;以该光阻层为一植入罩幕以形成至少一位线;在该光阻层之间形成一材料层;移除该光阻层;在该材料层的表面上形成一高分子材料层;以及以该高分子材料层为一蚀刻罩幕以定义该捕捉层。
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