[发明专利]透明材料折射率测量方法及其干涉测量仪无效
| 申请号： | 02159100.8 | 申请日： | 2002-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN1424571A | 公开（公告）日： | 2003-06-18 |
| 发明（设计）人： | 黄国松;李顺光 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G01N21/45 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种透明材料折射率的测量方法及其干涉测量仪，主要是将待测材料制成两块对称棱镜组成的组合平板样品，并将其置于马赫－陈德尔干涉仪一臂上，产生两路干涉，一路是马赫－陈德尔干涉，另一路是组合平板样品的两通光面形成的等厚干涉，组合平板样品中的一块固定，另一块沿固定块平移的同时，精密测定移动过程中两路干涉条纹的变化量m1和m2；利用n＝1/[1－2(m1/m2)]计算待测材料的折射率。本发明的优点是：折射率测量精度达10－5～10－6；在测试过程中避免使用测角仪；在样品移动过程中，光束方向不产生变化，不会破坏干涉；折射率只与条纹变化量有关；影响测量精度的因素减少；所测折射率上限达2.7，可测量从紫外到红外的材料折射率。 | ||
| 搜索关键词： | 透明 材料 折射率 测量方法 及其 干涉 测量仪 | ||
【主权项】：
1、一种透明材料折射率的测量方法，其特征在于该方法包括下列步骤：1)将待测材料制成两块对称棱镜形成的组合平板样品；2)将该组合平板样品置于马赫-陈德尔干涉仪一臂上，产生两路干涉，一路是马赫-陈德尔干涉，另一路是组合平板样品两通光面形成的等厚干涉；3)组合平板样品中的一块固定，另一块沿指定方向平移的同时，精密测定移动过程中两路干涉条纹的变化量m1和m2；4)利用下式计算待测材料的折射率：n=11-2(m1/m2)
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所，未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02159100.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：造纸助留助滤剂纳米硅溶胶的制备方法
- 下一篇：电流共享的模块供电方法及电路
