[发明专利]配有可从外部调整内部电源电位的内部电位产生电路的半导体集成电路装置有效
| 申请号： | 02160244.1 | 申请日： | 2002-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN1430227A | 公开（公告）日： | 2003-07-16 |
| 发明（设计）人： | 大石司 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G11C11/34 | 分类号： | G11C11/34;G11C11/15 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 傅康,叶恺东 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种半导体集成电路装置(1000)，它包括：多个内部电路(100.1～100.4)；变换外部电源电位的电平来供给对应于电平设定信号的电平的内部电源电位的内部电位产生电路(200.1～200.4)；在测试操作时，将多个电平设定信号依次提供给各个内部电位产生电路(200.1～200.4)的控制部(20)；以及比较各内部电位和基准电位，并保持表示比较结果的信息的测定电路(300.1～300.4)。在测试期间中，内部电位产生电路(200.1～200.4)内的比较电路进行对应于电平设定信号的电平和比较基准电位的比较。 | ||
| 搜索关键词： | 配有 外部 调整 内部 电源 电位 产生 电路 半导体 集成电路 装置 | ||
【主权项】：
1.一种半导体集成电路装置，包括：至少一个内部电路，根据从所述半导体集成电路装置的外部提供的数据和相互授受的数据的至少其中之一来进行规定的处理；内部电位产生电路，对应于所述内部电路来设置，接收包含表示内部电位电平的信息的电平设定信号，生成电平与所述电平设定信号对应的内部电位；测试控制电路，控制所述内部电位产生电路的输出电位的电平的测试处理，在所述测试操作中，将多个电平设定信号依次提供给所述内部电源电位产生电路；测定电路，在所述测试操作时，根据所述多个电平设定信号所对应的电平和所述比较用基准电位的所述比较电路产生的比较结果，来进行用于检测所述电平设定信号所需要的设定值的测定；以及传送电路，将所述测定电路的测定结果传送到所述测试控制电路；而所述内部电位产生电路包括：比较电路，在测试操作中，将比较用基准电位和对应于所述电平设定信号的电平进行比较。
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