[实用新型]双测头接触式坐标测量机床无效

专利信息
申请号: 02202349.6 申请日: 2002-01-14
公开(公告)号: CN2536349Y 公开(公告)日: 2003-02-19
发明(设计)人: 郑海波;郑凌云 申请(专利权)人: 郑海波
主分类号: B23Q17/20 分类号: B23Q17/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 362000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 一种双测头接触式坐标测量机床,在现有接触式坐标测量机床的结构上,增加一个测头,采用双测头,两测头至少有一坐标方向的运动相互独立,使之可同时测量两个点的坐标,突破现有接触式坐标测量机床采用一个测头进行逐点测量的局限性,从而快速地得到被测尺寸。该实用新型可用来测量坐标和轮廓尺寸。
搜索关键词: 双测头 接触 坐标 测量 机床
【主权项】:
1.一种双测头接触式坐标测量机床,包括测头,其特征是:在现有接触式坐标测量机床的结构上,增加一个测头,采用两个测头。
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