[实用新型]一种天体摄影曝光时间计算尺无效
申请号: | 02209382.6 | 申请日: | 2002-03-29 |
公开(公告)号: | CN2533523Y | 公开(公告)日: | 2003-01-29 |
发明(设计)人: | 李俊铎 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G06G1/06 | 分类号: | G06G1/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100084 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种天体摄影曝光时间计算尺,涉及天体摄影所使用的一种计算工具。该计算尺包括一个尺身和与尺身相配合的滑尺I和滑尺II,所述尺身的尺表面上刻有多个天体的不同状态以及该天体在不同情况下所对应的摄影曝光时间的刻度值,所述的滑尺I分别刻有地平高度和所用滤光镜的减光倍率的刻度值,所述滑尺II分别刻有镜头焦比和拍摄所需胶卷的感光度的刻度值。本实用新型利用普通计算尺的基本原理,结合天体摄影数据计算的特点设计出的一种专用于天体摄影的计算工具;它无需事先输入多个数据进行繁琐计算,即可在现场根据具体情况方便的计算出不同天体在不同状态下的摄影曝光时间、光圈系数、底片感光度等数据,具有携带方便,操作简单,灵活、直观的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 天体 摄影 曝光 时间 计算尺 | ||
【主权项】:
1.一种天体摄影曝光时间计算尺,其特征在于:该计算尺包括一个尺身和与尺身相配合的滑尺I和滑尺II,所述尺身的尺表面上刻有多个天体的不同状态以及该天体在不同情况下所对应的摄影曝光时间的刻度值,所述的滑尺I分别刻有地平高度和所用滤光镜的阻光倍率的刻度值,所述滑尺II分别刻有镜头焦比和拍摄所需胶卷的感光度的刻度值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02209382.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。