[实用新型]电路板TRL测试线的布线改良装置无效
| 申请号： | 02231215.3 | 申请日： | 2002-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN2550990Y | 公开（公告）日： | 2003-05-14 |
| 发明（设计）人： | 杨志祥 | 申请（专利权）人： | 神达电脑股份有限公司 |
| 主分类号： | H05K1/02 | 分类号： | H05K1/02;G01R27/02 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 王月珍 |
| 地址： | 台湾省新竹县*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型为一种电路板中有关TRL(ThroughReflectionLine)测试线设计的布线改良装置，是对于在电路中某一传输线上的一射频组件阻抗特性的测量，其中该射频组件在该传输线上分别向两端延伸的一特定距离均为L的设计下，利用将多条的测试线的若干个测试点整合在一条测试线中，其特征在是该测试线相对应平行于该传输线的一侧，设计该测试线上的距离为L处、距离为2L处、距离为2L+λ/4处设置测试点。本实用新型的设计可提高测试线对射频组件阻抗测量的效率，除可简化电路设计的复杂程度外也可减少产品成本的支出。 | ||
| 搜索关键词： | 电路板 trl 测试 布线 改良 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电路板的TRL(ThroughReflectionLine)测试线的布线改良装置，其是应用于对一传输线上的一射频组件阻抗的测量，其中所述的射频组件在所述的传输线上分别向两端延伸的一特定距离均为L，其特征在于所述的测试线是设计于对所述的传输线相对平行的一侧，并且该测试线分别在距离为L处、距离为2L处、距离为2L+λ/4处设置若干测试点，其中λ为波长。
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