[实用新型]光学测量装置无效

专利信息
申请号: 02239300.5 申请日: 2002-06-28
公开(公告)号: CN2549429Y 公开(公告)日: 2003-05-07
发明(设计)人: 陈士恩 申请(专利权)人: 精碟科技股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 戈泊,王初
地址: 中国*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 实用新型提供一种光学测量装置,测量一光学组件,光学测量装置包含一基座、一第一光纤对准器、一第一光纤、一第二光纤对准器、一第二光纤、一置放台以及一变温器。其中,第一光纤对准器设置于基座之上;第一光纤定位于第一光纤对准器上,随第一光纤对准器调整而移动;第二光纤对准器设置于基座之上,且与第一光纤对准器相对而设;第二光纤定位于第二光纤对准器,随第二光纤对准器调整而移动;置放台设置于第一光纤对准器与第二光纤对准器之间,以置放光学组件;变温器设置于置放台的下方,且随所需的测量温度而改变置放台的温度。
搜索关键词: 光学 测量 装置
【主权项】:
1.一种光学测量装置,测量一光学组件,其特征在于,该光学测量装置包含:一基座;一第一光纤对准器,系设置于该基座之上;一第一光纤,定位于该第一光纤对准器上,随该第一光纤对准器调整而移动;一第二光纤对准器,设置于该基座之上,且与该第一光纤对准器相对而设;一第二光纤,定位于该第二光纤对准器,随该第二光纤对准器调整而移动;一置放台,设置于该第一光纤对准器与该第二光纤对准器之间,以置放该光学组件;以及一变温器,设置于该置放台的下方,且随所需的测量温度而改变该置放台的温度。
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