[实用新型]晶片测试机无效
申请号: | 02243054.7 | 申请日: | 2002-07-30 |
公开(公告)号: | CN2566452Y | 公开(公告)日: | 2003-08-13 |
发明(设计)人: | 申请(专利权)人: | ||
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 史欣耕 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本实用新型涉及晶片测试机。目的是改进性能提高效率。配合滑块与滑轨的组设,利用盲钮或转轮可使入料组及分类台能作快速的位移及定位,利于平台的操作及故障的排除,且设有侦测及清除装置可适时侦测输送轮上的定位槽是否有残留未及时吹出的晶片予以强制清除,以避免产生重复感测的困扰,成为一种更具有实用性的晶片测试机,用于晶片测试。 | ||
搜索关键词: | 晶片 测试 | ||
【主权项】:
1、晶片测试机,其包括:一机台、一入料组、一分配器、一输送轮、一测试组、一分类台及侦测及清除装置,其特征是:机台有平台、操作用键盘及控制单元,平台内有分类集中盒;入料组包含入料斗,并与支架连设,衔接导料槽,导料槽下有振动器,与支架组设于滑座上,滑座与固定座组设且由旋钮穿过固定座,滑座由旋钮调整松紧滑移或定位;分配器位于输送轮、导料槽之间并设有容置待测晶片的容室,与输送轮接近的凹弧面两侧具有斜导面;输送轮与机台内的动力源、传动元件相连接,为顺时针转动状,外周缘设有等距分布的定位槽并设有与定位槽相同数目的侦测孔;测试组置于输送轮上,由固定架下连气缸,气缸表面的滑轨组设有内、外滑块,位于输送轮的内、外侧,其中,一组或一组以上的内、外滑块连设有感测晶片的探针;分类台具有内、外弧板,位于输送轮内外侧,且分别连接有吹管及导管,导管连接分类集中盒,位在平台上的入口端,分类台固设于可在固定座的滑轨上左右移动的滑块,滑块枢接一连接片,连接片另一端枢接在转轮的凹槽内,转轮使连接片将滑块朝向输送轮处移动并定位,内、外弧板对应于定位槽处,且固定座上具有两相对应的左、右挡块,供与滑块上的凸块接触作左、右位移的界定;侦测及清除装置由定位侦测组、晶片侦测组及晶片清除组组成,定位侦测组上的感测器对应于侦测孔处,晶片侦测组的感测器对应于定位槽处,晶片清除组于板架上设有滑轨供组设一滑块,滑块前端具有推针对应于定位槽处。
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