[实用新型]纳米半导体恒温试管架无效
| 申请号： | 02281924.X | 申请日： | 2002-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN2601400Y | 公开（公告）日： | 2004-01-28 |
| 发明（设计）人： | 孙立远;孙正晖;林冰 | 申请（专利权）人： | 烟台凯瑞医用设备开发有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/44 | 分类号： | G01N1/44;G01N37/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 264006山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种纳米半导体恒温试管架，在箱体(6)内试管套孔(12)与箱体(1)底部之间设置有若干个套管(7)，与电源连接的柔性电热膜(5)依次缠绕包裹上述套管(7)的外壁。采用柔性半导体电热膜包裹试管套的大部分外壁，藉以对试样加热、恒温，控温容易，温度恒定，加热均匀迅速。可广泛适用于医疗机构，检疫检验机构和其他需要对试样加热恒温的实验室。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 半导体 恒温 试管架 | ||
【主权项】：
1、一种纳米半导体恒温试管架，包括箱体(6)和开设在箱体(6)上端面的的若干个试管套孔(12)组成，其特征是：在箱体(6)内试管套孔(12)与箱体(6)底部之间设置有若干个套管(7)，与电源(2)连接的柔性电热膜(5)依次缠绕包裹上述套管(7)的外壁。
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