[实用新型]掠入射软X射线和极紫外线平场谱仪无效

专利信息
申请号: 02294156.8 申请日: 2002-12-27
公开(公告)号: CN2608962Y 公开(公告)日: 2004-03-31
发明(设计)人: 张杰;陈正林;彭晓昱 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: G01J3/18 分类号: G01J3/18;G01J3/28
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 王凤华
地址: 100080北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型涉及一种掠入射软X射线和极紫外线平场谱仪,该谱仪主要由光学系统、真空系统、图像采集系统、支撑系统等组成;光学系统主要由超环面镜、狭缝、平场光栅等组成。该谱仪灵敏度高,摄谱范围大,图像采集系统中使用CCD相机,可实现空间分辨光谱的实时采集;该谱仪中各光学元件都安装在相应的精密调节装置上,稳定性好,结构紧凑,精度高,调节方便,操作简单、高效;该谱仪各部件之间耦合精度高,工作稳定可靠;整个谱仪通过模拟光源进行调节,调节方法简单,使用方便;该谱仪可广泛用于热等离子体的无干扰诊断。
搜索关键词: 入射 射线 紫外线 平场谱仪
【主权项】:
1、一种掠入射软X射线和极紫外线平场谱仪,该谱仪包括光学系统(1)、真空系统(2)、图像采集系统(3)、支撑系统(4);其特征在于在支撑系统(4)上活动安装有真空系统(2);在真空系统(2)的柱形真空腔(21)内装有光学系统(1),在真空系统(2)的一端对应于其内的光学系统(1)活动设有图像采集系统(3)。
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