[发明专利]偏移测量方法有效

专利信息
申请号: 02800954.1 申请日: 2002-03-25
公开(公告)号: CN1460255A 公开(公告)日: 2003-12-03
发明(设计)人: 北山真智子;桑原雅弥;田井康裕 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09;G11B7/085
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王敬波
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种偏移测量方法用于在一个记录和再现设备中基于由一个信息介质反射的光束测量偏移,所述记录和再现设备包括放在运输装置上以使其沿信息介质的一个径向被驱动的光学拾取器。所述方法包括如下步骤:将光束指向第一测量位置,从而基于在第一测量位置反射的光束测量第一偏移量;将运输装置沿径向在第一方向移动第一距离;将光学拾取器沿第二方向驱动等于第一距离的第二距离;以及,将光束指向第二测量位置,从而基于在第二测量位置反射的光束测量第二偏移量。
搜索关键词: 偏移 测量方法
【主权项】:
1.一种偏移测量方法,用于在一个记录和再现设备中基于由一个信息介质反射的光束测量叠加在跟踪误差信号上的偏移,所述记录和再现设备包括放在运输装置上的光学拾取器以使其沿信息介质的一个径向被驱动,所述方法包括:第一偏移量测量步骤,将光束从光学拾取器指向信息介质上的第一测量位置,从而基于在第一测量位置反射的光束测量第一偏移量;运输装置移动步骤,在第一偏移量测量步骤之后,将其上放置有光学拾取器的运输装置沿径向在第一方向移动第一距离;第一光学拾取器驱动步骤,将运输装置上的光学拾取器沿与第一方向相反的第二方向驱动大致等于第一距离的第二距离;以及第二偏移量测量步骤,在运输装置移动步骤和第一光学拾取器驱动步骤之后,将光束从光学拾取器指向信息介质上的第二测量位置,从而基于在第二测量位置反射的光束测量第二偏移量。
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