[发明专利]有电源测试接口的集成电路有效

专利信息
申请号: 02801103.1 申请日: 2002-03-28
公开(公告)号: CN1460184A 公开(公告)日: 2003-12-03
发明(设计)人: F·G·M·德乔格;R·F·舒特特;J·德威尔 申请(专利权)人: 皇家菲利浦电子有限公司
主分类号: G01R31/316 分类号: G01R31/316
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 吴立明,张志醒
地址: 荷兰艾恩*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一个集成电路组件包含载体和半导体集成电路芯片(10)。在载体上的电流路径把功率供给芯片上的电源连接。提供的磁场传感器处在载体上电流路径的附近,用于读出由通过电流路径的电流产生的磁场。组件也包含用于探测电流存在的可测试存取磁场传感器的电子接口。优选地,传感器集成在载体上,采用淀积磁阻材料并图形在该材料,以便在电流路径附近提供传感器。优选地,载体是具有连接线的插入器(12),在插入器安装到印刷电路板(19)上之前,插入器与一个或多个集成电路芯片封装在一起。
搜索关键词: 电源 测试 接口 集成电路
【主权项】:
1.一种集成电路组件,包含:-有电源连接的半导体集成电路芯片;-贴接集成电路芯片的载体;-外部电源端子;-在载体上的电流路径,它连接外部电源端子和电源连接;-在载体上处在电流路径附近的磁场传感器,但在集成电路芯片外面,用于读出由通过电流路径的电流产生的磁场;-至磁场传感器的可测试存取电子接口,用于测试电流的存在。
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