[发明专利]具有用于嵌入式非易失性存储器的自测试器件的集成电路及相关测试方法

摘要

对具有嵌入式的或集成的非易失存储器(3)，特别是闪速存储器、EPROM或EEPROM的集成电路IC(2)进行测试极其困难，因为批量生产、低价格和最小利润率要求在最短时间内完成通常需要昂贵的大型设备的测试。通常，对嵌入式存储器(3)的测试是制造期间的一种瓶颈。本发明描述了一种测试结构和设计以及能将对嵌入式存储器的测试时间减少到最短的相关测试方法。实质上，被集成到集成电路IC(2)上的少数几个测试装置(8，9)、利用集成电路上提供的串行端口和内置自测试的适当测试设计，将预定的规则测试码型自动写入嵌入式存储器中，并在自动增加地址的情况下将自动存储读出在该集成电路压缩，以便由其串行读出，从而实现了对嵌入式存储器的快速测试，并回避了前述的瓶颈。

主权项

1.集成电路(2)，至少有一个嵌入式非易失性存储器(3)，特别是闪速存储器、EPROM或EEPROM以及一个或多个用于对所述存储器进行内置自测试的集成测试器件，所述测试器件包括：-用于将从所述存储器(3)读出的数据集与事先写入所述存储器的预定数据码型进行串行比较的装置(9)，所述比较装置在从所述存储器(3)读出的所述数据集与所述预定数据码型一样时，将产生第一输出信号；而在所述数据集与所述预定数据码型不同时，则产生第二输出信号，以及-用于在读出所述数据集期间自动增加所述嵌入式存储器(3)中的地址的装置(8)。