[发明专利]用于测试可测试电子装置的方法无效
| 申请号： | 02801576.2 | 申请日： | 2002-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN1471640A | 公开（公告）日： | 2004-01-28 |
| 发明（设计）人： | G·A·A·波斯;H·P·E·弗兰肯;T·F·瓦尔耶斯;D·莱罗维尔;H·弗勒里 | 申请（专利权）人： | 皇家菲利浦电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183;G01R31/3185;G01R31/319 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王岳;罗朋 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种方法，用来测试具有第一和第二多个测试配置，例如扫描链，的可测试电子装置。第一移位寄存器(110)与第二移位寄存器(130)并行地用来将第一测试矢量(102)和第二测试矢量(104)时分多路复用成很多较小的测试矢量(102a－c；104a－c)，以便供给该第一和第二多个测试配置。通过改变该第一移位寄存器(110)和第二移位寄存器(130)的大小就可在待接触的电子装置的引线数目和所需要的测试时间之间进行权衡。最好是，使第一移位寄存器(110)与第一缓冲寄存器(120)耦合，而使第二移位寄存器(130)与第二缓冲寄存器(140)耦合，以便提高测试数据的稳定性。第一移位寄存器(110)和第二移位寄存器(130)可以是一大的移位寄存器，例如，一边界扫描链的一些分区。该方法还可通过在该可测试电子装置的输出侧将测试结果矢量去时分多路复用成一单个的矢量的方法反过来使用。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 电子 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.用来测试可测试电子装置的方法，该可测试电子装置具有第一多个测试配置和第二多个测试配置，该方法包括下述步骤：使第一测试数据(102，106)在第一移位寄存器(110，150，210，250，410，450)和第一测试数据通道(202，206，402，406)之间进行串行通信，而且至少部分与之同时，使第二测试数据(104，108)在第二移位寄存器(130，170，230，270，430，470)和第二测试数据通道(204，208，404，408)之间进行串行通信；及使第一测试数据(102，106)在该第一多个测试配置和该第一移位寄存器(110，150，210，250，410，450)之间进行并行通信，而且至少部分与之同时，使第二测试数据(104，108)在第二多个测试配置和第二移位寄存器(130，170，230，270，430，470)之间进行并行通信。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家菲利浦电子有限公司，未经皇家菲利浦电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02801576.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
