[发明专利]光稳定性试验装置有效
| 申请号： | 02802242.4 | 申请日： | 2002-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN1464974A | 公开（公告）日： | 2003-12-31 |
| 发明（设计）人： | 造田弘司 | 申请（专利权）人： | 株式会社长野科学机械制作所 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陈红;楼仙英 |
| 地址： | 日本国大阪*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 为了能够进行正确的紫外线照射和正确的可见光照射来实施正确的光稳定性试验，光稳定性试验装置中的光传感器包括测定可见光照射量的可见光测定用传感器(5)和测定紫外线照射量的紫外线测定用传感器(6)，光学系统具有调节光源发出的光线的绝对量的全光调节装置(331)以及调节由全光调节装置调节过的光线中的紫外线照射量的紫外线调节装置(335)，控制部具有根据来自可见光测定用传感器(5)的信号控制全光调节装置(331)的全光控制部和根据来自紫外线测定用传感器(6)的信号控制紫外线调节装置(335)的紫外线控制部。 | ||
| 搜索关键词： | 稳定性 试验装置 | ||
【主权项】：
1.一种光稳定性试验装置，具有光源、调节该光源发出的光线的光学系统、载置经过该光学系统的光线照射的试料的试料台、安装在该试料台上的测定光线照射量的光传感器以及传送来自该光传感器的信号并控制所述光学系统的控制部；其特征在于所述光传感器具有测定可见光照射量的可见光测定用传感器和测定紫外线照射量的紫外线测定用传感器；所述光学系统具有调节所述光源发出的光线绝对量的全光调节装置和调节光线中的紫外线照射量的紫外线调节装置；所述控制部具有根据来自所述可见光测定用传感器的信号控制所述全光调节装置的全光控制部和根据来自所述紫外线测定用传感器的信号控制所述紫外线调节装置的紫外线控制部。
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