[发明专利]高纯氟气体、其生产方法和用途和分析高纯氟气体中的痕量不纯物的方法无效

专利信息
申请号: 02802243.2 申请日: 2002-06-27
公开(公告)号: CN1639058A 公开(公告)日: 2005-07-13
发明(设计)人: 鸟巢纯一;跡边仁志;星野恭之 申请(专利权)人: 昭和电工株式会社
主分类号: C01B7/20 分类号: C01B7/20;C01G53/08;G01N30/14;G01N21/35;H01S3/225
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 林柏楠;刘金辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在容器中分别进行至少一次步骤(1)将氟镍化合物加热以释放氟气体、步骤(2)使氟气体包藏在氟镍化合物内以及步骤(3)将氟镍化合物加热并降低内压,随后在步骤(1)中获得高纯氟气体。此外,在其表面上具有形成的氟化层的容器中,分别进行至少一次步骤(5)将氟镍化合物加热并将降低内压和步骤(6)使氟化氢含量降低的氟气体被包藏到氟镍化合物内,并进一步进行步骤(5),然后将含不纯物的氟气体与氟镍化合物接触以固定并除去氟气体,和通过气相色谱分析不纯物。
搜索关键词: 高纯 氟气 生产 方法 用途 分析 中的 痕量 不纯
【主权项】:
1.一种生产高纯氟气体的方法,包括进行步骤(1)-将容器中填充的氟镍化合物加热以释放氟气体和步骤(2)-使氟气体包藏到填充在容器中的氟镍化合物内,随后在步骤(1)中获得高纯氟气体,该方法包括分别进行至少一次步骤(1)和(2)以及步骤(3)-将容器中填充的氟镍化合物在250-600℃下加热并将容器内的压力降至0.01MPa(绝对压力)或更低,随后在步骤(1)中回收高纯氟气体。
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