[发明专利]用于电子电路的优化并行测试和访问的方法及设备无效
| 申请号： | 02802313.7 | 申请日： | 2002-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN1610834A | 公开（公告）日： | 2005-04-27 |
| 发明（设计）人： | 米歇尔·里凯蒂;克里斯托弗·J·克拉克 | 申请（专利权）人： | 英特泰克公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 夏青 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供一种并行测试结构(PTA)，便于同时访问多个电子电路(即并行)，用于优化电路的测试、调试或可编程配置。PTA包括并行测试总线(PTB)、连接到PTB的测试控制器、和连接到PTB的多个可寻址PTB控制器，其中每个可寻址PTB控制器可耦合到被访问的相应电子电路上。测试控制器被构成以在PTB上向相应的可寻址PTB控制器发送至少一个控制信号、以启动由相应的可寻址PTB控制器进行对与其耦合的电子电路的并行扫描访问。此外，每个可寻址PTB控制器被构成以采用扫描协议、以便根据由测试控制器在PTB上发送的控制信号访问可与其耦合的相应电子电路，并响应于访问相应电子电路而在PTB上向第一控制器发送结果扫描数据。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电子电路 优化 并行 测试 访问 方法 设备 | ||
【主权项】：
1、一种控制器电路，用于访问一个或多个电子电路控制器以测试、调试或可编程地配置这些电路，该控制器电路包括：测试总线；连接到测试总线的第一控制器；和连接到测试总线的多个第二控制器，每个第二控制器可连接到被访问的相应电子电路上，其中，第一控制器被构成以在测试总线上将至少一个第一控制信号发送给相应的第二控制器，以便通过相应的第二控制器启动可与之相连的电子电路的并行扫描访问，和其中，每个第二控制器被构成以采用一个扫描协议，以便根据由第一控制器在测试总线上发送的至少一个第一控制信号、访问可与其相连的相应的电子电路，每个第二控制器还被构成以响应对相应的电子电路的访问、而在测试总线上给第一控制器发送第一结果扫描数据。
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