[发明专利]测试方法、半导体器件和显示设备无效
| 申请号： | 02802806.6 | 申请日： | 2002-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN1479911A | 公开（公告）日： | 2004-03-03 |
| 发明（设计）人： | 折井俊彦;秋元修;安部仁;安藤直树 | 申请（专利权）人： | 索尼株式会社 |
| 主分类号： | G09F9/00 | 分类号： | G09F9/00;G09F9/30;G02F1/1368;G02F1/133;G09G3/36;G09G3/20 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种测试形成液晶显示设备的半导体衬底的方法，该方法使得甚至在像素电容对布线电容的比率随着液晶显示设备的尺寸降低或液晶显示设备的分辨率提高而降低时也能准确检测到对应于像素单元驱动电路的缺陷状态的电势改变。该方法包括：电荷保持步骤，用于使连接于从连接一个数据线的所有像素开关中选择出的多个像素开关的像素电容保持电荷；以及检测步骤，用于从该一个数据线同时检测在电荷保持步骤中保持在多个像素电容中的电荷。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 半导体器件 显示 设备 | ||
【主权项】：
1.一种测试半导体衬底的测试方法，所述半导体衬底由对应数据线和像素开关控制线的交叉位置、按矩阵形式排列的像素单元驱动电路形成，所述像素单元驱动电路每一个包括像素开关和连接于像素开关的像素电容，用于保持像素数据，所述方法的特征在于包括：电荷保持步骤，用于使连接于从连接一个数据线的所有像素开关中选择出的多个像素开关的像素电容保持电荷；以及检测步骤，用于从所述一个数据线同时检测在所述电荷保持步骤中保持在多个像素电容中的电荷。
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