[发明专利]干扰信号功率测量装置及方法、发射功率控制装置及方法无效
| 申请号： | 02803256.X | 申请日： | 2002-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN1478333A | 公开（公告）日： | 2004-02-25 |
| 发明（设计）人： | 大崎吉晴;宫和行 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | H04B7/26 | 分类号： | H04B7/26;H04B7/10 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 黄小临;王志森 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种发射功率控制装置(20)具有SIR测量单元(101)，不仅测量其中反映了所有干扰因素的第一SIR(SIR1)值，而且测量从其中移除了由多径干扰引起的功率值分量的第二SIR(SIR2)值。控制信号产生单元(31)通过使用该两个SIR(SIR1，SIR2)，产生用于控制发射功率的信号。在此产生的控制信号使得当多径干扰分量与整个干扰分量的比率较大时不增加或减小发射功率、而当多径干扰比率较小时指示增加或减小发射功率。 | ||
| 搜索关键词： | 干扰 信号 功率 测量 装置 方法 发射 控制 | ||
【主权项】：
1.一种干扰信号功率测量装置，包括：预期信号功率测量单元，用于测量多径接收信号的预期信号功率；第一干扰信号功率测量单元，用于测量所述多径接收信号的干扰信号功率作为第一干扰信号功率；和第二干扰信号功率测量单元，通过基于由所述预期信号功率测量单元测得的所述预期信号功率和由所述第一干扰信号功率测量单元测得的所述第一干扰信号功率，将由多径干扰引起的功率分量从所述第一干扰信号功率中移除而计算第二干扰信号功率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社，未经松下电器产业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02803256.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
