[发明专利]利用离子迁移谱测定法测量氦中杂质浓度的方法无效
| 申请号： | 02803512.7 | 申请日： | 2002-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN1484763A | 公开（公告）日： | 2004-03-24 |
| 发明（设计）人： | L·普斯特拉;M·苏斯;A·博努斯;R·斯蒂麦克 | 申请（专利权）人： | 工程吸气公司 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 龙传红 |
| 地址： | 意大利*** | 国省代码： | 意大利;IT |
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| 摘要： | 描述了一种利用离子迁移谱测定法定量分析氦中杂质浓度的方法，其中所述方法包括应用纯化后的氩与所要分析的氦一起形成样品，或者在仪器的分离区中使用纯氩作为逆流气体，或者最终将氦－纯化后的氩的混合物同时作为样品气体和逆流气体。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 离子 迁移 测定法 测量 杂质 浓度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种利用离子迁移谱测定法测量氦中杂质浓度的方法，其中所述方法包括按如下条件之一进行分析：-应用其杂质含量需要确定的氦和纯氩形成的氦-氩混合物作为样品气体，所述混合物含有0.1-50％氩，并且在离子迁移谱测定仪的分离区中使用纯氦作为逆流气体；或者-应用其杂质含量需要确定的氦或其与纯氩的混合物作为样品气体，所述混合物含有0.1-50％氩，并且在离子迁移谱测定仪的分离区中使用纯氦作为逆流气体；或者-应用其杂质含量需要确定的氦和纯氩的混合物作为样品气体，并且用不含杂质的氦-氩混合物作为逆流气体，其中所述混合物的氩浓度范围为10-80％。
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