[发明专利]磁存储元件、其制造方法和驱动方法、及存储器阵列无效

专利信息
申请号: 02803917.3 申请日: 2002-01-18
公开(公告)号: CN1488176A 公开(公告)日: 2004-04-07
发明(设计)人: 松川望;平本雅祥;小田川明弘;里见三男;杉田康成 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L43/08 分类号: H01L43/08;H01L27/105;G11C11/14;G11C11/15
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本国大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种磁存储元件,包含磁电阻元件、用于发生使所述该元件的电阻值变化的磁束的导线、和该磁束通过的至少一个强磁性体,强磁性体形成磁隙,在该磁隙,磁束通过上述元件,并且以下关系式a)~c)成立。a)M1≤2Lg,b)Lw/Ly≤5和Ly/Lt≥5的至少之一,c)Ly≤1.0μm。其中,M1为沿平行于磁隙方向测定的元件的长度,Lg为磁隙的长度,Lt为强磁性体的厚度,Lw为强磁性体在导线延伸方向上的长度,Ly为磁束通过强磁性体内的距离。本发明还提供一种与该元件一样、有助于存储器高容量化的另外的元件等。
搜索关键词: 存储 元件 制造 方法 驱动 存储器 阵列
【主权项】:
1.一种磁存储元件,包含磁电阻元件、用于发生使所述磁电阻元件的电阻值变化的磁束的导线、和所述磁束通过的至少一个强磁性体,所述强磁性体形成磁隙,在所述磁隙,所述磁束通过所述磁电阻元件,并且,以下关系式a)~c)成立,a)M1≤2Lgb)Lw/Ly≤5和Ly/Lt≥5的至少之一c)Ly≤1.0μm其中,M1为沿平行于所述磁隙方向测定的所述磁电阻元件的长度,Lg为所述磁隙的长度,Lt为所述强磁性体的厚度,Lw为所述强磁性体在所述导线延伸方向上的长度,Ly为所述磁束通过所述强磁性体内的距离。
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