[发明专利]在自一测试和扫描一测试期间检测或查找交叉时钟域故障的多一捕获为测试而设计的系统无效
| 申请号： | 02804826.1 | 申请日： | 2002-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN1623098A | 公开（公告）日： | 2005-06-01 |
| 发明（设计）人： | 王荣腾;许博清;高士嘉;林孟祺;王信博;赵浩然;温晓青 | 申请（专利权）人： | 美国华腾科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 吴明华 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种方法和设备，用于提供经排序的捕获时钟(111，114，117，120)，以在自－测试或扫描－测试模式中在集成电路或电路组件(133)中检测或查找在N个时钟域(CD1，CD2，CD3，CD4)中的故障以及交叉任何两个时钟域(CCD1，CCD2，CCD3，CCD4)的故障，其中N＞1，以及每个域具有多个扫描存储单元(SC)。所述方法和设备允许在位移操作期间产生N个伪随机或预定激励(109)，并装载到集成电路或电路组件中的N个时钟域中的所有扫描存储单元，在捕获操作期间把经排序的捕获时钟序列(CK1，CK2，CK3，CK4)施加到N个时钟域中的所有扫描存储单元，在压缩/比较操作期间，压缩或比较所有扫描存储单元的N个输出响应(110)，用于进行分析，以及重复上述过程，直到到达预定的限制标准。进一步开发一种计算机辅助设计(CAD)系统，以实现方法和合成设备。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 扫描 期间 检测 查找 交叉 时钟 故障 捕获 设计 系统 | ||
【主权项】：
1.一种方法，用于提供经排序的捕获时钟，以在自—测试模式中，在集成电路或电路组件中检测或查找N个时钟域中的故障和交叉任何两个时钟域的故障，其中，N＞1，并且每个域具有多个扫描存储单元，所述方法包括下列步骤：(a)在移位操作期间，在所述集成电路或电路组件中产生N个伪随机激励，并装载到在所述N个时钟域中的所有所述扫描存储单元；(b)在捕获操作期间，把经排序的捕获时钟序列施加到所述N个时钟域中的所有所述扫描存储单元；(c)在压缩操作期间，把所有所述扫描存储单元的N个输出响应压缩成签名；以及(d)重复步骤(a)-(c)，直到到达预定的限制标准，其中，(a)和(c)实质上同时发生。
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