[发明专利]半导体芯片的制造方法无效
申请号: | 02805229.3 | 申请日: | 2002-11-15 |
公开(公告)号: | CN1493086A | 公开(公告)日: | 2004-04-28 |
发明(设计)人: | 北村政彦;矢岛兴一;木村祐辅;田渕智隆 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/301 | 分类号: | H01L21/301;H01L21/304 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 使有由于外因而使粘贴力降低的粘贴层的粘贴胶带10介于其间,将半导体晶片的表面粘贴到板状物支撑部件上,在该状态下,研磨半导体晶片的背面,在研磨后的半导体晶片的背面,粘贴切割胶带,同时通过切割架支撑切割胶带的外周,由于使外因作用于粘贴层,而使粘贴层的粘贴力降低,所以不损伤半导体晶片或者半导体芯片,就可以取下板状物支撑部件和粘贴胶带。 | ||
搜索关键词: | 半导体 芯片 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体芯片的制造方法,是将通过分割道被划分、在表面上形成有多个半导体芯片的半导体晶片分割为一个个的半导体芯片,其特征在于,是由下述工序构成:使由于外因而使粘贴力降低的粘贴层介于其间,将半导体晶片的表面粘贴到板状物支撑部件上的板状物支撑部件一体化工序;将与该板状物支撑部件成为一体的半导体晶片载置于研磨装置的卡盘台上、研磨该半导体晶片的背面的研磨工序;在与该板状物支撑部件成为一体的研磨后的半导体晶片的背面,粘贴切割胶带的同时,通过切割架支撑该切割胶带的外周的胶带粘贴工序;在该胶带粘贴工序前或后,使该外因作用于该粘贴层,使该粘贴层的粘贴力降低,在该胶带粘贴工序后,将该板状物支撑部件和该粘贴层从该半导体晶片的表面取下的粘贴转换工序;将介于该切割胶带而与该切割架成为一体的半导体晶片载置于切割装置的卡盘台上,通过该分割道进行分离,分割为一个个的半导体芯片的切割工序。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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