[发明专利]锁相环周期滑移检测无效

专利信息
申请号: 02806190.X 申请日: 2002-03-07
公开(公告)号: CN1516919A 公开(公告)日: 2004-07-28
发明(设计)人: D·霍莫尔;T·琼斯;N·克莱默 申请(专利权)人: 艾利森公司
主分类号: H03D13/00 分类号: H03D13/00;H03L7/089;H04B1/40
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯;张志醒
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种与相位/频率检测器(PFD)接口的周期滑移检测器,这种周期滑移检测器可用于例如锁相环电路(PLL),以指示周期滑移何时出现在PFD中。一般而言,PFD产生作为第一和第二输入信号之间相位差的函数的输出控制信号,其中第一输入信号通常充当参考信号,PLL参照它来调整第二输入信号。只要PFD输入信号之间的相对相位差不超过±2π弧度,PFD就可提供其输入信号之间的线性相位比较。如果两个信号之一超前或滞后于另一个的量超过那个量,就会发生周期滑移,于是PFD就会作出非线性响应。周期滑移检测器提供逻辑,当超前和滞后周期滑移出现在PFD内时检测并指示超前和滞后的周期滑移,它一般用最少的逻辑门和触发器配置来实现。
搜索关键词: 锁相环 周期 滑移 检测
【主权项】:
1.一种用于锁相环(PLL)的电路,包括:相位检测器,所述相位检测器又包括第一和第二输入电路以及复位电路,所述第一和第二输入电路分别用于响应第一和第二输入信号中的时钟沿以产生第一和第二PLL控制信号,所述复位电路用于根据所述第一和第二PLL控制信号来产生复位信号,以使所述第一和第二输入电路复位;以及周期滑移检测器,用于每个所述第一和第二输入电路,每个所述周期滑移检测器根据以下这些信号来产生滑移指示信号:所述复位信号、所述第一和第二输入信号中相应的一个信号以及所述第一和第二PLL控制信号中相应的一个信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于艾利森公司,未经艾利森公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02806190.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top