[发明专利]运行位置测量装置的方法和适用的位置测量装置有效

专利信息
申请号: 02806240.X 申请日: 2002-02-21
公开(公告)号: CN1496476A 公开(公告)日: 2004-05-12
发明(设计)人: E·施特拉泽 申请(专利权)人: 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
主分类号: G01D5/249 分类号: G01D5/249
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 吴立明;张志醒
地址: 德国特劳*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 指出了运行位置测量装置的方法以及适用于此的位置测量装置。在此从位置测量装置向后置的分析单元传输出数据。其中分析单元借助于被一定的询问间歇时间间隔开的询问间歇脉冲请求从位置测量装置传输数据。间歇地运行位置测量装置的光源,其中时间上相继的光源激励脉冲之间有定义的光源间歇时间。并且依据询问间歇脉冲之间的询问间歇时间这样地确定光源间歇时间:使之保证光源激励脉冲与询问间歇脉冲之间的时间同步。
搜索关键词: 运行 位置 测量 装置 方法 适用
【主权项】:
1.方法,以运行用于测定两个彼此相互运动的物体的位置的光学位置的测量装置,其中-从位置测装置(10)向后置的分析单元(30)传输出数据,其中分析单元(30)借助于被一定的询问间歇时间(ΔtNC)间隔开的询问间歇脉冲(ATP),请求从位置测量装置(10)传输数据,-间歇地运行位置测量装置(10)的光源(11),其中在时间上相继的光源激励脉冲(LP)之间有定义的光源间歇时间(ΔtLQ)并且-依据询问间歇脉冲(ATP)之间的询问间歇时间(ΔtNC)按以下方式调整光源间歇时间(tLQ):使得保证光源激励脉冲(LP)与询问间歇脉冲(ATP)之间的时间同步。
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