[发明专利]无须使用逻辑模拟的用于对复杂IC的设计进行校验的方法和装置

摘要

一种通过使用事件测试器和现场可编程门阵列(FPGA)或仿真器板的组合，用于对复杂IC的设计进行校验的方法和装置。该设计校验方法消除了在当今设计校验中成为瓶颈的逻辑模拟。因为从设计校验流程中消除了较慢的模拟，因此在设计出样用于制造之前能完成大范围设计校验，而且由于大范围设计校验变为可能，所以消除了批量生产前对原型的需要。

主权项

1、一种对复杂集成电路(IC)的设计进行校验的方法，其中设计过程在电子设计自动化(EDA)环境下进行，该方法包括下述步骤：将一现场可编程门阵列(FPGA)连接到一事件测试器；基于在EDA环境下产生的设计数据，通过所述事件测试器对所述FPGA进行内嵌编程，以在该FPGA中建立一等效于预期IC的IC；通过所述事件测试器，将从所述IC设计数据得到的测试向量应用于所述FPGA并评估所述FPGA的响应输出；检测所述响应输出中的错误并通过修改所述FPGA的内嵌编程来校正设计错误；以及重复所述错误检测和设计校正步骤，直到在所述事件测试器中获得无错误的设计数据为止。