[发明专利]检测印刷电路板质量的方法和装置无效
| 申请号： | 02806956.0 | 申请日： | 2002-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN1498346A | 公开（公告）日： | 2004-05-19 |
| 发明（设计）人： | 沃纳·赖辛格 | 申请（专利权）人： | 沃纳·赖辛格 |
| 主分类号： | G01R31/309 | 分类号： | G01R31/309 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李勇 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于检测印刷电路板上的电子电路或其一部分的一种方法和一种装置。按照本发明具有以下方法步骤；该方法以简单的装置结构实现无接触的检测：(a)获取从印刷电路板表面发出的射线，(b)将获取的射线转换为数据，它们描述了印刷电路板的表面结构和/或深层结构，(c)将表面结构和/或深层结构数据与所存储的表面结构和/或深层结构的额定状态数据进行比较，以及(d)确定获取的表面结构和/或深层结构数据与表面结构和/或深层结构的额定状态数据之间的偏差。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 印刷 电路板 质量 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.检测印刷电路板上的电子电路或其一部分的方法，其特征在于以下步骤：(a)获取从印刷电路板表面发出的射线，(b)将获取的射线转换为数据，这些数据描述了印刷电路板的表面结构和/或深层结构，(c)将表面结构和/或深层结构数据与所存储的表面结构和/或深层结构的额定状态数据进行比较，以及(d)确定获取的表面结构和/或深层结构数据与表面结构和/或深层结构的额定状态数据之间的偏差。
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