[发明专利]等离子体处理装置无效
申请号: | 02807490.4 | 申请日: | 2002-03-28 |
公开(公告)号: | CN1509496A | 公开(公告)日: | 2004-06-30 |
发明(设计)人: | 大见忠弘;平山昌树;须川成利;后藤哲也 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社;大见忠弘 |
主分类号: | H01L21/31 | 分类号: | H01L21/31;H01L21/3065;H05H1/46 |
代理公司: | 北京东方亿思专利代理有限责任公司 | 代理人: | 柳春雷;李其华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在微波等离子体处理装置中,通过使正对被处理基片的喷盘或等离子体透过窗的、正对所述被处理基片的一侧成凹面状,来补偿被处理基片周围部分中的等离子体密度的降低。其结果,即使在进行蚀刻等低压下的等离子体处理时,也能在被处理基片表面附近维持稳定均匀的等离子体。此外,通过所述结构,还可以促进等离子体的点火。 | ||
搜索关键词: | 等离子体 处理 装置 | ||
【主权项】:
1.一种等离子体处理装置,其特征在于,所述等离子体处理装置由以下部分构成:处理容器,由外壁围成,具有支承被处理基片的支承台;排气系统,与所述处理容器结合;微波透过窗,作为所述外壁的一部分设置在所述处理容器上,并与所述支承台上的被处理基片相对;等离子气体供给部分,用于向所述处理容器供给等离子气体;微波天线,对应于所述微波设置在所述处理容器上;其中,所述微波透过窗的正对所述被处理基片一侧的内表面成凹面形状,从而,与所述被处理基片表面一致的平面和所述内表面之间的间隔沿所述微波透过窗的径向向外减小。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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