[发明专利]用于测试数据存储器的测试方法无效
| 申请号： | 02809846.3 | 申请日： | 2002-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN1509478A | 公开（公告）日： | 2004-06-30 |
| 发明（设计）人： | 亚历山大·贝内迪克斯;赖因哈德·杜雷格尔;罗伯特·赫尔曼;沃尔夫冈·鲁夫 | 申请（专利权）人： | 印芬龙科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱进桂 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 提出了一种用于对具有集成的测试数据压缩电路(16)的数据存储器进行测试的测试方法，其中，所述数据存储器(1)包括：存储单元阵列(10)，具有多个可寻址的存储单元；读取/写入放大器(12)，用于通过数据存储器(1)中的内部数据总线(12)，读取以及将数据写入到所述存储单元；以及，测试数据压缩电路(16)，使用存储的参考测试数据序列，对从存储单元阵列(10)中串行读取出的测试数据序列进行压缩，以便产生用于表示在已经读取出的数据序列中是否已经出现了至少一个数据错误的各个指示符数据项。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试数据 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于对数据存储器进行测试的测试方法，所述测试方法包括：将已经从数据存储器(1)中串行读取出的测试数据序列中的多个测试数据与参考测试数据进行比较，以便产生压缩指示符数据项，所述指示符数据项表示在所述测试数据序列中是否已经出现了至少一个数据错误。
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