[发明专利]动态存储器及测试动态存储器之方法有效
| 申请号： | 02810578.8 | 申请日： | 2002-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN1511323A | 公开（公告）日： | 2004-07-07 |
| 发明（设计）人： | C·奥尔霍夫 | 申请（专利权）人： | 因芬尼昂技术股份公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张志醒 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种动态存储器，它包含一个存储器单元阵列(10)，一个测试控制器(12)，用于测试存储器单元阵列(10)，以及一振荡器(14)用来控制存储器单元阵列(10)之更新。根据本发明，所述存储器包含用于使用振荡器(14)作为测试控制器的一个时钟基础的装置(16)。由此，达成一个慢速时钟基础，它可用于存储器的不同的自身测试。 | ||
| 搜索关键词： | 动态 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种动态存储器，具有一存储器单元数组(10)，一测试控制器(12)用以测试该存储器单元数组(10)，以及一振荡器(14)用以控制该存储器单元数组(10)的更新，其具有装置(16)用以利用该振荡器(14)作为该测试控制器的时间基础。
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