[发明专利]存储单元结构测试无效
| 申请号： | 02810647.4 | 申请日： | 2002-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN1537312A | 公开（公告）日： | 2004-10-13 |
| 发明（设计）人： | M·特里普;T·马克;M·斯皮卡 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;梁永 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于测试存储单元的装置和方法，所述方法包括：将第一和第二存储单元分别连接到第一和第二位线；通过第一和第二位线从第一和第二存储单元中读出数据；以及比较第一和第二位线的电压电平。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 单元 结构 测试 | ||
【主权项】：
1.一种装置，它包括：连接到第一位线的第一存储单元；连接到第二位线的第二存储单元；地址解码器，它连接到所述第一和第二存储单元以便能存取所述第一和第二存储单元；以及比较器电路，它连接到所述第一和第二位线以便当通过所述第一位线从所述第一存储单元输出数据并且通过所述第二位线从所述第二存储单元输出数据时将所述第一位线上的电压电平与所述第二位线上的电压电平进行比较。
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