[发明专利]分光装置和分光方法有效
申请号: | 02811479.5 | 申请日: | 2002-08-13 |
公开(公告)号: | CN1514930A | 公开(公告)日: | 2004-07-21 |
发明(设计)人: | 山内一德 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | G01J3/36 | 分类号: | G01J3/36 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 | 代理人: | 徐申民 |
地址: | 日本静冈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 从光源(3)中发出的光线L传输通过样品单元(S)并且射入分光部分(13)。所述分光部分(13)包括传输不同波长的光组份的干涉滤光器(31-39),以及相应于各自的干涉滤光器的光电二极管(41-49)。组成一个干涉滤光器的非传导性薄膜具有相对令人满意的特性来反射非被传输的波长的光组份的那些光组份。在每个干涉滤光器中,一入射光被分成一传输光组份和一反射光组份。通过把反射光变成入射光射入下一级的干涉滤波器中,就可以探测具有九种波长类型的光组份。 | ||
搜索关键词: | 分光 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于探测多个具有不同波长的光线组成部分的分光装置,包括:多个干涉滤光器,它们在从其传输通过的多个光组成部分的波片上是不同的,并且从光源中发出的光顺序传输至它们,以及多个光电探测装置,它们对应于多个所述干涉滤光器,并用于探测传输通过相应干涉滤光器的光线组成部分,其中,每个所述的干涉滤光器把一束入射光分成一束被反射的光和一束被传输的光并且使得这束反射光作为入射光射入设置在下一级的干涉滤光器,由此,从所述光源中发出的光按序被传输入多个所述的干涉滤光器。
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