[发明专利]包含流量增强特征的半导体衬底高压加工室无效
申请号: | 02811658.5 | 申请日: | 2002-04-10 |
公开(公告)号: | CN1630931A | 公开(公告)日: | 2005-06-22 |
发明(设计)人: | M·A·比贝格;F·P·莱曼;T·R·苏顿 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 肖春京 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种用于半导体衬底加工的高压室,它包含高压加工腔、多个注入喷嘴、以及第一和第二出口。高压加工腔在高压加工过程中夹持半导体衬底。多个注入喷嘴向着高压加工腔内取向成涡流角,且能够在半导体衬底表面上产生涡流。第一和第二出口位于多个注入喷嘴的中心附近,且能够在第一时间段提供第一出口的工作出口,并能够在第二时间段提供第二出口的工作出口。在一个备选实施方案中,高压加工腔的上表面包含高度变化。此高度变化对半导体衬底上流动的工艺流体产生了更为均匀的分子速度。 | ||
搜索关键词: | 包含 流量 增强 特征 半导体 衬底 高压 加工 | ||
【主权项】:
1.一种用于半导体衬底加工的高压室,它包含:a.半导体衬底的高压加工腔;b.向着高压加工腔内取向成涡流角的多个注入喷嘴,此多个注入喷嘴能够在半导体衬底表面上产生涡流;以及c.位于多个注入喷嘴的中心附近的第一和第二出口,此第一和第二出口能够在第一时间段提供第一出口的工作出口,并能够在第二时间段提供第二出口的工作出口。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造