[发明专利]具有连续沉积和蚀刻的电离PVD无效

专利信息
申请号: 02812085.X 申请日: 2002-05-03
公开(公告)号: CN1552097A 公开(公告)日: 2004-12-01
发明(设计)人: 图鲁尔·雅萨尔;格林·雷诺兹;弗兰克·切里奥;布鲁斯·吉托曼;迈克尔·格拉佩豪斯;罗德尼·罗比森 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L21/285
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 张浩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种iPVD设备(20)通过在真空室(30)内循环执行沉积和蚀刻模式,将材料(10)沉积到半导体基片(21)上高形状比的亚微米结构(11)中。这些模式工作在不同的功率和压力参数下。例如大于50mTorr的压力用于从靶上溅射材料,而小于几mTorr的压力例如用于蚀刻。蚀刻时对基片的偏压功率要高一个数量级,蚀刻时产生几百伏偏压而沉积时仅有几十伏。交替执行的蚀刻模式去除基片上结构突出边缘的沉积材料,去除结构底部(15)一些沉积材料,将去除的沉积材料重新溅射到结构的侧壁(16)上。基片(21)在沉积和蚀刻过程中冷却,特别是蚀刻过程中冷却到明显低于0℃。RF能量耦合到室(30)内形成高密度等离子体,沉积期间耦合的RF功率明显高于蚀刻期间的。基片(21)在蚀刻过程比在沉积过程更靠近等离子体源。
搜索关键词: 具有 连续 沉积 蚀刻 电离 pvd
【主权项】:
1.一种iPVD工艺,包括:在一iPVD设备的室内将一基片密封,并且不打开室执行iPVD工艺,通过操作设备工作在沉积模式下,接着工作在蚀刻模式下,然后再工作在另一个沉积模式下,在基片上具有高形状比亚微米结构的表面上沉积导电层,这些模式的改变是通过控制设备工作的功率和压力参数,这些参数在沉积模式和在蚀刻模式下是不同的。
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