[发明专利]抗蚀剂组合物无效
申请号: | 02812460.X | 申请日: | 2002-06-21 |
公开(公告)号: | CN1633628A | 公开(公告)日: | 2005-06-29 |
发明(设计)人: | 前沢典明;浦野文良 | 申请(专利权)人: | 和光纯药工业株式会社 |
主分类号: | G03F7/039 | 分类号: | G03F7/039;H01L21/027 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 丁香兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种相应于以电子射线等为代表的超微细加工技术,具有高分辨性、高灵敏度、良好形状且对于在高真空下的能量照射,不产生气体逸出的实用的抗蚀剂组合物。即,提供(1)一种抗蚀剂组合物,其含有至少1种具有上述通式[1]、[2]和[3]所示的结构单元的聚合物、至少1种如上述通式[4]表示的放射线照射产生酸的化合物、以及有机碱性化合物和溶剂。(2)所述(1)的抗蚀剂组合物还包含具有上述通式[13]表示的聚合物单元的聚合物和(3)所述(1)和(2)的抗蚀剂组合物还包含上述通式[12]表示的通过放射线照射产生酸的化合物。 | ||
搜索关键词: | 抗蚀剂 组合 | ||
【主权项】:
1.一种抗蚀剂组合物,其含有至少1种具有下述通式[1]、[2]和[3]所示的结构单元的聚合物、至少1种如下述通式[4]表示的放射线照射产生酸的化合物、以及有机碱性化合物和溶剂:所述通式[1]为:式1中,R1表示氢原子或者甲基,所述通式[2]为:式2中,R1与上述相同,R2表示氢原子或者具有1~4个碳原子的直链状或者支链状烷基,所述通式[3]为:式3中,R1与上述相同,R3表示在酸作用下易于脱离且可以和酸成酯键的酸不稳定基团,所述通式[4]为:式4中,R5和R7分别独立地表示氢原子或者吸电子基团,但排除R5和R7同时是氢原子的情况,R4、R6和R8分别独立地表示氢原子或者卤原子,R9和R10分别独立地表示氢原子、卤原子、具有1~4个碳原子的直链状或者支链状烷基、具有1~4个碳原子的直链状或者支链状烷氧基、具有2~5个碳原子的直链状或者支链状的烷氧羰氧基或者具有4~5个碳原子的环状缩醛基,n表示1~3的整数。
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