[发明专利]密度不均匀实验材料解析方法及其装置和系统

摘要

在本发明的解析密度不均匀实验材料内的颗粒状物的分布状态的密度不均匀实验材料解析方法中，实际测量X射线散射曲线是基于面内衍射测量的面内X射线散射曲线，进行该面内X射线散射曲线和模拟X射线散射曲线的拟合，将模拟X射线散射曲线和面内X射线散射曲线一致时的拟合参数的值作为密度不均匀实验材料内的颗粒状物的面内方向的分布状态。同时通过上述方法，还能够提供能够简单并且高精度地解析具有各向异性的密度不均匀实验材料内的颗粒状物的面内方向的分布状态的密度不均匀实验材料解析装置和系统。

主权项

1.一种密度不均匀实验材料解析方法，具有：依照表示颗粒状物的分布状态的拟合参数，通过使用表示X射线散射曲线的散射函数，在与实际测量X射线散射曲线的测量条件相同的条件下，计算模拟X射线散射曲线的步骤；一边变更拟合参数，一边进行模拟X射线散射曲线和实际测量X射线散射曲线的拟合的步骤，其中通过将模拟X射线散射曲线和实际测量X射线散射曲线一致时的拟合参数的值作为密度不均匀实验材料内的颗粒状物的分布状态，来解析密度不均匀实验材料内的颗粒状物的分布状态，其特征在于：实际测量X射线散射曲线是基于面内衍射测量的面内X射线散射曲线，进行该面内X射线散射曲线和模拟X射线散射曲线的拟合，将模拟X射线散射曲线和面内X射线散射曲线一致时的拟合参数的值作为密度不均匀实验材料内的颗粒状物的面内方向的分布状态。