[发明专利]维特比侦测器状态计量再规范之方法及装置有效
| 申请号： | 02813202.5 | 申请日： | 2002-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN1522498A | 公开（公告）日： | 2004-08-18 |
| 发明（设计）人： | W·G·布利斯;R·卡拉贝德;J·W·雷;H·斯托克曼斯 | 申请（专利权）人： | 因芬尼昂技术股份公司 |
| 主分类号： | H03M13/41 | 分类号： | H03M13/41;G11B20/10 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;梁永 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 维特比侦测器状态计量再规范之方法及装置。该方法包含制造一具有预定数目状态之维特比侦测器(138)，其中该维特比侦测器(138)储存每一状态的状态计量值以及旁支计量值，而且该维特比侦测器(138)实现一卷积图(trellis diagram)。该方法包含建构一维特比侦测器(138)，以支持一具有g+h’个位的状态计量值。用以代表该旁支计量值所需的位数以g表示，而用以代表该状态计量值所需的额外位数以h’表示。该额外位数h’少于该额外位数h，h由以下的不等式决定：2h－1－h≥K－1，其中K代表该卷积图的缩限长度。 | ||
| 搜索关键词： | 侦测 状态 计量 规范 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一制造具有预定数目状态的维特比侦测器的方法，其中该维特比侦测器储存每个状态的状态计量值和旁支计量值，并且该维特比侦测器实现一卷积图，该方法包含：建构一支持具有g+h’个位的状态计量值的维特比侦测器，其中g为用以表示该旁支计量值所需的位数，而h’为用以表示该状态计量值所需的额外的位数，该额外位数h’少于该额外位数h，h由以下的不等式决定：2h-1-h≥K-1，其中K代表该卷积图的缩限长度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于因芬尼昂技术股份公司，未经因芬尼昂技术股份公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02813202.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
