[发明专利]测试处理装置和方法无效
| 申请号： | 02813652.7 | 申请日： | 2002-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN1524185A | 公开（公告）日： | 2004-08-25 |
| 发明（设计）人： | 吴杰 | 申请（专利权）人： | 吴杰 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 本发明是关于一种测试处理装置和方法，该为测试机提供电子元件的测试处理装置，包括与测试机通讯的测试机界面，至少二个元件界面，每个元件界面可通过第一连接与测试机界面接通，且每个元件界面可通过第二连接与连接到相应的电子元件组接通，第一和第二个连接之一是交替连接。与此相应的方法，包括把第一组电子元件连接到测试机界面测试，一旦完成该测试，就断开第一组电子元件和测试机界面的连接；将第二组电子元件连接到测试机界面测试，一旦完成该测试，就断开第二组电子元件和测试机界面的连接。本发明刻石先在不需提高测试处理机运行的速度的前提下取得更高的测试生产能力。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 处理 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于向测试机提供电子元器件以进行测试的测试处理装置，其特征在于该测试处理装置包括：一个用于与测试机通讯的测试机界面；至少两个元器件界面，每个元器件界面可通过第一连接与测试机界面接通，且每个元器件界面可通过第二连接与相应的一组电子元器件接通；其中第一连接及第二连接之一以交替连接形式接通。
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