[发明专利]在减低压力的情况下掺杂、扩散及氧化硅片的方法和装置有效
申请号: | 02814058.3 | 申请日: | 2002-05-14 |
公开(公告)号: | CN1528007A | 公开(公告)日: | 2004-09-08 |
发明(设计)人: | Y·培勒格林 | 申请(专利权)人: | 塞姆科工程股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;C30B35/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 吴明华 |
地址: | 法国蒙*** | 国省代码: | 法国;FR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种对硅片(4)进行掺杂、扩散或氧化的方法,所述硅片置于炉子(1)的炉室(2)之中,炉室中至少引入一种气体以进行上述掺杂、扩散或氧化作业过程。本发明的特征在于,方法包括:在将气体引入和通过炉子(1)的炉室(2)中的同时,连续地使气体受到一恒定值的压力的降低。掺杂、扩散或氧化硅片(4)的装置包括一炉子(1),该炉子(1)具有一炉室(2),室中设置硅片,所述炉子至少包括一进气管(5a,5b,5c),用于将至少一种气体通入炉室(2)之中进行所述加工作业以及包括至少一个排气管(6)以排出通入室中的气体,该排气管与一抽气装置相连,以在炉室(2)中产生一恒定及受控制的压力的降低。 | ||
搜索关键词: | 减低 压力 情况 掺杂 扩散 氧化 硅片 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种掺杂、扩散或氧化硅片(4)的方法,所述硅片置于一炉子(1)的炉室(2)内,在炉室(2)内至少引入一种气体以完成上述掺杂、扩散或氧化作业,其特征在于,在把硅片引入炉室(2)内及把气体通入炉子(1)的炉室(2)内的同时,使通入的气体连续地处于一定值的低于大气压力的低压之下。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于塞姆科工程股份有限公司,未经塞姆科工程股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02814058.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于用电器的开关装置单元、尤其是电动机起动器
- 下一篇:超小间距毛细管
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造