[发明专利]用于根据投影图像重建三维数据集的X-射线检查装置有效
申请号: | 02815651.X | 申请日: | 2002-07-25 |
公开(公告)号: | CN1541374A | 公开(公告)日: | 2004-10-27 |
发明(设计)人: | J·C·A·奥普德比克;R·科普佩;E·P·A·克洛茨 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王岳;梁永 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 一种X-射线检查装置包括X-射线源和X-射线探测器且被设置成在相对于预定参照系的X-射线源(1)和X-射线探测器(2)的相应取向处提供系列投影图像。投影图像的取向相对于这个参照系被校准。根据所述投影图像,基本的三维数据集(23)被重建。若干观察方向(121-123)相对于相同的参照系被校准。针对被校准的观察方向形成一个或更多个附加的X-射线图像(111-113),即优选地从时间上处于连续的瞬时。通过借助于附加的X-射线图像更新基本的三维数据集形成动态系列的三维数据集。 | ||
搜索关键词: | 用于 根据 投影 图像 重建 三维 数据 射线 检查 装置 | ||
【主权项】:
1.一种X-射线检查装置,其包括X-射线源和X-射线探测器且被设置成-在相对于预定参照系的X-射线源和X-射线探测器的相应取向形成一系列投影图像,-所述取向相对于参照系被校准,以及-根据所述系列投影图像重建基本的三维数据集,并且其中-相对于参照系的X-射线源和X-射线探测器的位置针对一个或更多个附加的观察方向被校准。
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