[发明专利]半导体记忆装置测试方法及装置无效
| 申请号： | 02816470.9 | 申请日： | 2002-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN1545708A | 公开（公告）日： | 2004-11-10 |
| 发明（设计）人： | E·科德斯;G·E·埃格斯;J·卢普科;C·斯托肯 | 申请（专利权）人： | 因芬尼昂技术股份公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 梁永 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本案系关于在一测试装置(PA)之测试方法，用以测试一半导体记忆装置(P)，该半导体记忆装置(P)具有一关于资料选通信号(DQS)的双向资料选通连结，藉此该资料选通信号可透过在被测试的半导体记忆装置(P)与一相同类型的第二半导体记忆装置(R)间的数据传输而被测试。本案亦关于一种用以实行此发明方法的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 记忆 装置 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于第一半导体记忆装置(P)的测试方法，该第一半导体记忆装置(P)具有：一关于资料选通信号(DQS)的双向资料选通终端，以及至少一关于资料信号(DS)的双向资料终端，在一测试装置(PA)上，其至少可产生资料选通与资料信号，以及传输与评估资料信号，其特征在于，在使用该资料选通与该资料信号的测试过程中，一资料系从该第一半导体记忆装置(P)被传输至相同类型的一第二半导体记忆装置(R)，以及在从该第二半导体记忆装置(R)的一读出之后被该测试装置(PA)评估。
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