[发明专利]光记录载体记录方法和设备无效

专利信息
申请号: 02816493.8 申请日: 2002-07-11
公开(公告)号: CN1547736A 公开(公告)日: 2004-11-17
发明(设计)人: G·R·兰格雷斯;B·蒂伊科 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G11B7/0045 分类号: G11B7/0045;G11B7/125;G11B7/013
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘杰;陈景峻
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及光记录载体记录方法,该方法用于通过将辐射束(12)引导至光记录载体(20)的记录表面(21)上来形成凹区和凸区。对于每个将被记录的凹区,辐射束被设定到至少一个能够在写功率照射周期(31)内形成凹区的写功率电平(Pw),并且对于凹区之间的每个凸区,辐射束被设定到至少一个在底功率照射周期(51)内不能形成凹区的底功率电平(P0)。为了在不增加整体抖动的条件下将附加LML通道的位嵌入主通道,根据本发明提出在用于形成LML凸区的LML凸区照射周期(55)内将底功率电平(P0)临时增加到LML凸区功率电平(P11),该LML凸区功率电平(P11)接近于写功率电平(Pw),以及在用于形成LML凹区的LML凹区照射周期(35)内将写功率电平(Pw)临时降低到LML凹区功率电平(Pp1),该LML凹区功率电平(Pp1)接近于底功率电平(P0)。
搜索关键词: 记录 载体 方法 设备
【主权项】:
1.一种用于通过将辐射束(12)引导至光记录载体(20)的记录表面(21)上来形成凹区和凸区的光记录载体记录方法,对于每个将被记录的凹区,辐射束被设定到至少一个能够在写功率照射周期(31)内形成凹区的写功率电平(PW),并且对于凹区之间的每个凸区,辐射束被设定到至少一个在底功率照射周期(51)内不能形成凹区的底功率电平(P0),其特征在于,在用于形成LML凸区的LML凸区照射周期(55)内将底功率电平(P0)临时增加到LML凸区功率电平(P11),该LML凸区功率电平(P11)接近于写功率电平(PW),并且在用于形成LML凹区的LML凹区照射周期(35)内将写功率电平(PW)临时降低到LML凹区功率电平(Pp1),该LML凹区功率电平(Pp1)接近于底功率电平(P0)。
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